產(chǎn)品介紹

NIST SRM 1134低合金高硅鋼(標準品)是一種在退火條件下發(fā)布的低合金鋼，含有大量硅。 SRM 1134 旨在用于評估和校準化學和儀器分析方法。 SRM 1134 的一個單元由一個直徑約 31 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。

認證質(zhì)量分數(shù)值：

被測量是 SRM 1134 中每種成分的認證值。表 1 中以質(zhì)量分數(shù)形式報告了 10 種成分的認證值 [1]。賦值類別基于 NIST 對化學參考材料 [2] 使用的術(shù)語和模式的定義。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。認證值是根據(jù) NIST 和合作實驗室進行的分析結(jié)果對真實值的當前最佳估計。計量溯源性是導出的 SI 單位的質(zhì)量分數(shù)（以百分比表示）。

參考質(zhì)量分數(shù)值：

被測量是表 2 中報告的鋁的參考值。參考值是對真實值的最佳估計的非認證值；但是，該值不符合 NIST 認證標準，并且提供了相關(guān)的不確定性，可能不包括所有來源不確定性 [2]。計量溯源性是導出的 SI 單位的質(zhì)量分數(shù)（以百分比表示）。信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。

認證到期：

NIST SRM 1134低合金高硅鋼(標準品)的認證在規(guī)定的不確定性范圍內(nèi)無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM（參見“使用說明”）。因此，不需要定期重新校準或重新認證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認證無效。

使用說明

測試表面是與標記表面相對的一側(cè)，其中包括 SRM 編號。該裝置的整個厚度都經(jīng)過認證。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個封裝的磁盤都是通過使用銑削完成測試表面來準備的機器。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時，應將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。認證值被認為代表了材料的總體平均成分。