產(chǎn)品介紹

NIST SRM2944 熒光光譜的相對強度校正（標(biāo)準(zhǔn)品）旨在用于評估和校準(zhǔn)具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的相對光譜響應(yīng)度，并用于確定日常或儀器到儀器的強度變化單個或類似的熒光儀器， SRM 2944 的一個單元由一塊比色杯形的實心玻璃組成。樣品系列裝置的序列號介于 Bi0XX 和 Bi0YY 之間。該 SRM 已通過相對校正發(fā)射光譜 E 的認(rèn)證，以相對能量單位表示，發(fā)射波長 λEM = 530 nm 至 830 nm，波長間隔為 1 nm，固定激發(fā)波長 (λEX) 為 515.0 nm。由于峰值附近較大的信噪比水平，發(fā)射

推薦從 λEM = 590 nm 到 805 nm 的范圍作為大多數(shù)儀器和應(yīng)用的最佳選擇。請注意，本標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證值在用于脈沖光源熒光光譜儀的光譜校正時成為參考值。

認(rèn)證值：

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已調(diào)查或考慮在內(nèi) [1]。每個發(fā)射波長的 E 和相應(yīng)總不確定度在 95 % 置信水平 U95 下的認(rèn)證值在表 1 和表 2. E 的計量溯源性是 NIST 光譜輻射度標(biāo)度，以相對能量單位表示。波長的計量溯源性為米的 SI 單位。

NIST SRM2944 熒光光譜的相對強度校正（標(biāo)準(zhǔn)品）的定位應(yīng)使激發(fā)光束垂直并居中在一個拋光面上，并從與激發(fā)光束成 90 度角的相鄰拋光面收集發(fā)射。長磨砂面應(yīng)背對檢測系統(tǒng)。每個 SRM 的頂面都刻有自己的序列號，使用時應(yīng)朝上。磨砂面可以與正面或落射熒光幾何形狀一起使用，或者拋光面可以與上述不同的幾何形狀一起使用，但是在這些情況下，認(rèn)證值將成為參考值。表 1 和表 2 中的值在 25.0 °C ± 0.5 °C 下經(jīng)過認(rèn)證，激發(fā)帶寬 (ΔλEX) 為 3.0 nm，發(fā)射帶寬 (ΔλEM) 為 3.0 nm。